| 18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016 |
4.3.3 - Application-specific programming of MEMS microphones |
S. Walser, M. Loibl, G. Feiertag - Munich University of Applied Sciences, Munich (Germany), C. Siegel, M. Winter, K. Mayer, A. Leidl - EPCOS AG A TDK Group Company, Munich (Germany) |
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4.3.4 - FBARs (Film Bulk Acoustic Resonators) als CO2-Sensoren mit der Möglichkeit zur akustischen Eliminierung von Querempfindlichkeiten |
R. Hoffmann, M. Schreiter - Siemens Corporate Technology, München (Deutschland), J. Heitmann - TU Bergakademie Freiberg, Freiburg (Deutschland) |
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4.4.1 - Permittivity Measurement with a Radio Communication System |
I. Motroniuk, S. Hummel, A. Fischerauer, G. Fischerauer - Universität Bayreuth, Bayreuth (Germany) |
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4.4.2 - Impedance spectroscopy on lithium ion cells for automotive applications with optimized measurement duration and frequency resolution |
P. Haußmann, J. Melbert - Ruhr-Universität Bochum, Bochum (Germany) |
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4.4.3 - Entwicklung und Anwendung einer elektronischen Zunge zum Nachweis organischer Säuren |
T. Nacke, A. Barthel, R. Kühler, D. Martin, Y. Zaikou - iba e.V. Heiligenstadt, Heilbad Heiligenstadt (Deutschland), M. Engelmann, O. Schröder - Pattern Expert, Leipzig (Deutschland) |
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5.1.1 - Potential and Challenges of using Computer Graphics for the Simulation of Optical Measurement Systems |
M. Retzlaff, J. Hanika, C. Dachsbacher - Karlsruhe Institute of Technology (KIT), Karlsruhe (Germany), J. Beyerer - Fraunhofer Institute of Optronics, Karlsruhe (Germany) |
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5.1.2 - Ein stereophotogrammetrischer Sensor mit einem Strahlteiler aus Prismen |
C. Keck, R. Tutsch - Technische Universität Braunschweig, Braunschweig (Deutschland) |
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5.1.3 - Automatisierte Kalibrierung eines Gonioreflektometers zum Messen der BRDF |
A. Winkler, B. Zagar - Johannes Kepler Universität Linz, Linz (Österreich) |
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5.1.4 - Photogrammetrische Verfahren in der bildgebenden Photometrie |
C. Schrader, A. Sperling - Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig (Deutschland) |
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5.2.2 - Ein schneller Spurengasdetektor auf Basis von Ion-Ion- Rekombination |
A. Heptner, N. Angerstein, I. Niedzwiecki, S. Zimmermann - Leibniz Universität Hannover, Hannover (Deutschland) |