16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 |
4.3.2 Digital-holographischer Mehrwellenlängensensor HoloTop zur 100-Prozent-Kontrolle von Oberflächen |
D. Carl, M. Fratz, D. Giel, H. Höfler - Fraunhofer-Institut - IPM -, Freiburg |
16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 |
4.3.3 Nutzung von Farbkameras für die 3D-Oberflächenmessung mittels Weißlichtinterferometrie |
T. Machleidt, D. Kollhoff - Gesellschaft für Bildund Signalverarbeitung mbH, Ilmenau, O. Dathe - ProMicron, Kirchheim/Neckar, D. Kapusi, R. Nestler - Zentrum für Bild- und . Signalverarbeitung e.V. (ZBS), Ilmenau, K. Franke - Technische Universität Ilmenau |
16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 |
4.3.4 Nanomess- und Nanopositioniergeräte für die nanometergenaue Positionierung und Messung von Oberflächen und Strukturen |
E. Manske, G. Jäger, R. Füßl, F. Balzer, H. Baitinger - Technische Universität Ilmenau |
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5.1.1 Autonome drahtlose Sensorik für die Prozessindustrie |
M. Ulrich, K. König, H. Kaul, P. Nenninger - ABB AG, Ilmenau |
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5.1.2 Vibrationen als Energiequelle für Feldinstrumente in der Prozessautomatisierung |
K. König, M. Ulrich, H. Kaul, P. Nenninger - ABB AG, Ilmenau |
16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 |
5.1.3 Autonome Sensorpartikel zur räumlichen Parametererfassung in großskaligen Behältern. |
S. Reinecke, U. Pöpping, U. Hampel - Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V, Dresden |
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5.1.4 MEMS-basierter energieautonomer kabelloser Sensorknoten |
T. Zimmermann - Universität Aalen, A. Frey, M. Schreiter, J. Seidel, I. Kühne - Siemens AG, München |
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5.2.1 Früherkennung von Strukturschäden mittels geführter Lamb-Wellen |
E. Köppe, M. Bartholmai, J. Prager - Bundesanstalt für Materialforschung . und -prüfung (BAM), Berlin |
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5.2.2 Eingebettetes „Structural Health Monitoring” System für Faserverbundstrukturen mit drahtloser Energie- und Datenübertragung |
T. Dräger, I. Mayordomo, J. Bernhard - Fraunhofer-Institut - IIS -, Nürnberg |
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5.2.3 Abbildende Wirbelstromsensoren zur hochauflösenden berührungslosen Abbildung von elektrischen Eigenschaften schlecht leitender Objekte |
H. Heuer, M. Schulze - Fraunhofer-Institut - IZFP -, Dresden, M. Klein - SURAGUS GmbH, Dresden |