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16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 2.3.1 Magnetic field camera for fast - high resolution inline magnet inspection K. Vervaeke - MagCam NV, Leuven (Belgien)
16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 2.3.2 Magnetoresistive Sensoren für hochdynamische Winkel- und Wegmessung R. Slatter - Sensitec GmbH, Lahnau
16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 2.3.3 Magnetische Streuflussprüfung mit angepassten GMR Sensor Arrays A. Neubauer, M. Pelkner, V. Reimund, T. Erthner, H. Thomas, M. Kreutzbruck, N. Bertus - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin
16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 2.3.4 3D Rekonstruktion der Magnetfeldvektoren Bx, By, Bz in Cern, Schweiz. 3D Single Chip Hall Sensor 5 Tesla, PHE Fehler 20 ppm. H. Hoeben - Hoeben Electronics, EW Lage Mierde (Niederlande)