| 16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 |
4.3.4 Nanomess- und Nanopositioniergeräte für die nanometergenaue Positionierung und Messung von Oberflächen und Strukturen |
E. Manske, G. Jäger, R. Füßl, F. Balzer, H. Baitinger - Technische Universität Ilmenau |
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5.1.1 Autonome drahtlose Sensorik für die Prozessindustrie |
M. Ulrich, K. König, H. Kaul, P. Nenninger - ABB AG, Ilmenau |
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5.1.2 Vibrationen als Energiequelle für Feldinstrumente in der Prozessautomatisierung |
K. König, M. Ulrich, H. Kaul, P. Nenninger - ABB AG, Ilmenau |
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5.1.3 Autonome Sensorpartikel zur räumlichen Parametererfassung in großskaligen Behältern. |
S. Reinecke, U. Pöpping, U. Hampel - Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V, Dresden |
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5.1.4 MEMS-basierter energieautonomer kabelloser Sensorknoten |
T. Zimmermann - Universität Aalen, A. Frey, M. Schreiter, J. Seidel, I. Kühne - Siemens AG, München |
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5.2.1 Früherkennung von Strukturschäden mittels geführter Lamb-Wellen |
E. Köppe, M. Bartholmai, J. Prager - Bundesanstalt für Materialforschung . und -prüfung (BAM), Berlin |
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5.2.2 Eingebettetes „Structural Health Monitoring” System für Faserverbundstrukturen mit drahtloser Energie- und Datenübertragung |
T. Dräger, I. Mayordomo, J. Bernhard - Fraunhofer-Institut - IIS -, Nürnberg |
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5.2.3 Abbildende Wirbelstromsensoren zur hochauflösenden berührungslosen Abbildung von elektrischen Eigenschaften schlecht leitender Objekte |
H. Heuer, M. Schulze - Fraunhofer-Institut - IZFP -, Dresden, M. Klein - SURAGUS GmbH, Dresden |
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5.2.4 Detektierung von Strukturschädigungen durch Analyse der Lagrange-Multiplikatoren (LM) der Ausgleichungsrechnung |
F. Neitzel, S. Weisbrich - Technische Universität Berlin, K. Brandes - Institut für angewandte . Forschung im Bauwesen (IaFB) e.V., Berlin, W. Daum - Bundesanstalt für Materialforschung . und -prüfung (BAM), Berlin |
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5.3.1 Grundlagen und derzeitige Entwicklungen der Messunsicherheitsbewertung – Von der Fehlerrechnung zur Bayes-basierten Messdatenauswertung |
K. Sommer - Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig, R. Kacker - National Institute of Standards and Technology -NIST-, Gaithersburg (USA) |
